一、设备介绍绝缘子在直流线路的运行期间，某些元件可能遭受到由于不均匀的电压分 布所引起的很高电压的作用并持续时间，还会受到周围空气温度和太阳照射引 起的高温作用，由于流经绝缘子的电流会随温度而指数升高（即按绝缘子的绝缘 介质电阻/温度规律变化）， 此电流可能会很高且长时间存在。绝缘子在持续长时间高温下会发生热破坏现象，使绝缘子的电导率增大，产生沟槽， 使在裂缝 区流动的电流增大，如此大的热应力的发展就促进了介质的局部劣化，随时间的进展使绝缘子介质击穿。
离子迁移老化试验就是模拟这种在高压、高温的条件下，由于电荷的流动 而引起的介质中的例子迁移对绝缘材料劣化的影响。该试验作为绝缘子的型式 试验来执行，在试验期间让绝缘子通过等于最恶劣的条件下 50 年寿命的总电荷量，以检验它们是否损坏。
二、设备参数
1. 恒温箱内部尺寸（D×W×H）：2000×4500×3000 ㎜
2. 温度范围：RT+10℃～150℃
3. 温度均匀度：≤ 2℃ （150℃内，空载时）
4. 温度波动度：±0.5℃ （空载时）
5. 温度偏差：≤±2℃
6. 时间设定范围：0～9999 小时、分钟、秒
7. 数量：2套
8. 直流高压产生测量系统：
输出电压： 0~+300kV DC
电压测量精度： △≤1%
电压脉动系数： δ≤0.5%
最大负载电流： Imax=100mA
电流测量精度： δ≤1%（注：总电流）
连续运行时间： T≥180天
9.绝缘子离子迁移测量系统
被测试品数量： N≥54只（H=300mm Φ320~600mm）
体电阻测量： R≥1010Ω 测量精度≤±3%
迁移电荷量测量： Q∶0～5C 测量精度≤±1%
温度测量范围： 室温~200℃ 测量精度≤±0.5℃
温度控制的稳定性和均匀性偏差：±1℃
10.热电破坏试验测量系统：
试品数量： N=54只 （H=300mm Φ320~600mm）
体电流测量： 0.001μA~1mA 测量精度≤±2%
温度测量范围： 室温~150℃ 测量精度≤±0.5℃
温度控制的稳定性和均匀性偏差：±1℃
